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了解金屬膜電阻器的人都知道它是以合金粉為原材料，通過真空高溫蒸發的方式，將其沉積在絕緣瓷棒上形成一層金屬膜，然后進行高溫熱處理，使之形成結構致密、完善、電性能優良的電阻膜。再通過加引線帽，切割螺旋槽，調整阻值，涂護漆層等工藝而形成。那么，你知道金屬膜電阻器的失效模式有哪些嗎？下面小編簡單介紹一下：

金屬膜電阻器的失效模式主要有：開路、短路、阻值的異常漂移和超差等。這些失效與產品生產過程和使用條件以及本身存在各種缺陷有密切關系。
1、開路：導致金屬膜電阻器開路的主要原因有：瓷心基體破裂、電阻膜破裂，電阻膜分解以及引線斷裂等原因。
2、短路：導致金屬膜電阻器短路的原因有：電暈放電、銀遷移等兩種原因。
3、金屬膜電阻失效的主要模式是阻值的異常漂移和超差。其主要原因是：導電膜層的厚度不均勻，有疵點、膜層的螺旋槽間有導電沾污物以及膜層與帽蓋的接觸不良等原因，這些原因均影響電壓分布不均勻，所以會有很高的電位梯度和嚴重的局部過熱，嚴重時導致擊穿或燒毀。一般都是由缺陷引入潮氣使金屬膜電阻器局部電解，從而使阻值發生顯著的漂移或加速膜層的氧化和有機材料的顯著老化。